![]() 10 µm |
![]() 3 µm |
![]() 1,5 µm |
![]() 1 µm |
![]() 800 nm |
![]() 600 nm |
![]() 350 nm |
![]() 250 nm |
![]() 180 nm |
![]() 130 nm |
![]() 90 nm |
![]() 65 nm |
![]() 45 nm |
![]() 32 nm |
![]() 22 nm |
![]() 16 nm |
![]() 11 nm |
Der 45-nm-Prozess ist ein Fertigungsprozess, wie er seit 2007-2008 bei den führenden Halbleiterherstellern zum Einsatz kommt.
Matsushita und Intel begannen mit der Massenproduktion bereits Ende 2007, wohingegen AMD erste Chips in 45 nm Ende 2008 auslieferte. Auch IBM, Infineon, Samsung und Chartered Semiconductor besaßen zu diesem Zeitpunkt bereits Fertigungsprozesse für diesen Technologieknoten. In China war SMIC der erste Hersteller, welcher einen 45-nm-Prozess anbot (Bulk-Prozess lizenziert von IBM).
Da auch beim 45-nm-Prozess noch Belichtungswellenlängen von 193 oder 248 nm zum Einsatz kommen, sind verschiedene Abbildungstechniken notwendig um diese Strukturgrößen herstellen zu können. Dies sind u. a. Optical proximity correction, Phasenschiebermasken und Double patterning.
Ebenso kommen bei der 45-nm-Technologie High-k-Materialien zum Einsatz, um Leckströme am Transistorgate zu reduzieren. IBM und Intel zeigten 2007 erste Transistoren mit High-k-Dielektrika und Metal-Gate-Technologie.
Auf der IEDM 2007 wurden mehrere technische Details von Intels 45-nm-Prozess bekannt.
Intel setzt auch in der 45-nm-Technologie noch nicht auf eine Immersionslithografie, zur Abbildung der Strukturen kommt Double patterning zum Einsatz. Ebenso werden erstmals High-k-Materialien zur Verringerung von Leckströmen am Transistor eingesetzt
Bei der Fertigung von Nehalem- und Atom-Prozessoren werden anstelle von sechs Transistoren in den SRAM-Zellen acht Bauteile verwendet, um Spannungsänderungen besser abfangen zu können, wodurch 30 % mehr Fläche benötigt werden.