1. Die Grenzen von Flash
Flash-Speicher (siehe Kapitel zur Flash-Speicherzelle) dominiert seit Jahrzehnten den nichtflüchtigen Speichermarkt, stößt aber zunehmend an technische Grenzen. Mit fortschreitender Skalierung der Floating-Gate-Zelle sinkt die Anzahl der gespeicherten Elektronen pro Zelle immer weiter – bei aktuellen Strukturgrößen sind es teils nur noch wenige Dutzend Elektronen, die über „0“ oder „1“ entscheiden. Das macht die Zelle anfälliger für Störeinflüsse benachbarter Zellen (Zellinterferenz durch parasitäre Kapazitäten), für Lese-Störungen (Read Disturb) und für Ladungsverlust über die Zeit (Charge Loss), da bereits der Verlust eines einzelnen Elektrons das Ausleseergebnis verfälschen kann. Bei Multi-Level-Cell- und Triple-Level-Cell-Verfahren (siehe Kapitel zur Flash-Speicherzelle), bei denen mehrere Bits über feine Abstufungen der Schwellspannung in einer Zelle codiert werden, verschärft sich dieses Problem zusätzlich, da die Spannungsfenster zwischen den einzelnen Ladungszuständen immer schmaler werden.
Hinzu kommt die begrenzte Endurance: Jeder Schreib-/Löschzyklus treibt Elektronen durch das dünne Tunneloxid der Zelle (Fowler-Nordheim-Tunneln bzw. Hot-Electron-Injection), was das Oxid graduell mit Fangstellen (Traps) durchsetzt und mechanisch beansprucht. Je nach Zelltyp übersteht NAND-Flash dadurch nur zwischen wenigen Hundert Zyklen (QLC, vier Bit pro Zelle) und rund 100.000 Zyklen (SLC, ein Bit pro Zelle), bevor die Fehlerrate der Zelle nicht mehr durch Fehlerkorrekturverfahren (ECC) kompensiert werden kann. Auch die Schreibgeschwindigkeit ist grundsätzlich limitiert: Anders als beim byteweisen Schreiben erfolgt das Löschen bei NAND-Flash blockweise (typischerweise mehrere Hundert Kilobyte auf einmal) und dauert mit teils mehreren Millisekunden deutlich länger als der eigentliche Schreibvorgang einer Seite.